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不良产品测试元器件测试
XDXIII-XF130B型电子元件测试仪,采用CCD成像系统成像， 0.3微焦点射线管集约束散射线,数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件使用功能；正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻转、数字化高清灰度图像采集、
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2020-07-24 |
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DR平板探测器陶制品测试电路测试螺纹x光机测试微电路测试
AZ4343DR 技术规格书AZ4343DR为无线DR探测器,高性能、高清晰成像,大小与片盒尺寸相同,具有低功耗、快速图像传输、图像好，可以灵活的连接到目前所有的高压发生器。通过4343DR探测器电缆连接器可以很容易地打开和关闭
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2020-07-24 |
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电子元件测试仪移动式测试仪内部结构铸透视测试 物理缺陷测试
XDXIII-XF130B型电子元件测试仪,采用CCD成像系统成像， 0.3微焦点射线管集约束散射线,数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件使用功能；正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻转、数字化高清灰度图像采集、
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2020-07-24 |
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测试机测试设备测试内部结构方位透视DR平板探测器
1719动态平板探测器，图像清晣、曝光时间短、成像速度快和读出速度高等优点，可以实现1x1原图30fps帧速率，2x2 binning60fps帧速率，同时提供适用于X射线实时成像应用。技术参数 规格 探测器类别 非晶硅 闪烁体 CsI
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2020-07-24 |
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板式X射线数字成像系统细小精密工业部件测试
2925动态平板探测器规格书2529动态平板探测器，具有图像清晰、高DQE、高分辨率等优点，可以实现全分辨率14帧/秒，2x2 binning 30帧/秒，4x4 binning 60帧/秒，适用于X射线实时成像应用 描述 规格(GOS) 规格(CsI) 探
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2020-07-24 |
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无损测试设备无线平板探测器元器件测试 IC半导体测试
无损测试设备: 一、仪器简介： XDXIII-F350A型无损测试设备采用F350数字成像系统成像，0.3微焦点射线管集约束散射线,数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件使用功能；正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻
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2020-07-24 |
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无线平板探测器压接钢锚测试铝铸件沙孔探测仪
无损测试设备: 一、仪器简介： XDXIII-F350A型无损测试设备采用F350数字成像系统成像，0.3微焦点射线管集约束散射线,数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件使用功能；正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻
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2020-07-23 |
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工业X射线机实验铸件测试 内部结构铸透视测试微电路测试
AZ4343DR 技术规格书AZ4343DR为无线DR探测器,高性能、高清晰成像,大小与片盒尺寸相同,具有低功耗、快速图像传输、图像好，可以灵活的连接到目前所有的高压发生器。通过4343DR探测器电缆连接器可以很容易地打开和关闭
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2020-07-23 |
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